一、考試總體要求：
1、數(shù)字邏輯基礎(chǔ)
數(shù)制與碼、邏輯門與邏輯功能、邏輯代數(shù)的基本定律和規(guī)則、邏輯函數(shù)的表示方式及相互關(guān)系、邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡法、邏輯函數(shù)與邏輯圖。
2、門電路
TTL門電路和特殊門電路、MOS門電路。
3、組合邏輯電路
組合邏輯電路特點；小規(guī)模組合邏輯電路的分析與設(shè)計；常用的中規(guī)模集成電路（譯碼器、編碼器、數(shù)據(jù)選擇器、數(shù)值比較器）的原理、分析及應(yīng)用設(shè)計；．算術(shù)運算電路及奇偶校驗電路的分析與設(shè)計；競爭-冒險的概念及判斷。
4、時序邏輯電路
時序邏輯電路特點；觸發(fā)器的原理及分析；由觸發(fā)器構(gòu)成的時序邏輯電路的分析與設(shè)計；常用的中規(guī)模集成電路（寄存器、計數(shù)器）的原理、分析及應(yīng)用設(shè)計；順序脈沖發(fā)生器的原理、分析及設(shè)計。
5、脈沖信號的產(chǎn)生與整形
單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器、多諧振蕩器和施密特觸發(fā)器的工作原理和主要參數(shù)的分析方法及應(yīng)用；定時器工作原理及應(yīng)用。
6、數(shù)模、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路
D/A轉(zhuǎn)換器、A/D轉(zhuǎn)換器的分類、基本工作原理； D/A轉(zhuǎn)換器的典型電路及主要性能指標；A/D轉(zhuǎn)換器的典型電路、轉(zhuǎn)換的步驟及主要性能指標。
7、半導(dǎo)體存儲器
ROM、RAM的電路結(jié)構(gòu)、工作原理和擴展存儲容量的方法。
二、考試形式與試卷結(jié)構(gòu)
（一）考試形式
考試形式為筆試，考試時間為3小時，滿分為150分。
（二）試卷結(jié)構(gòu)
1. 填空題（10分）
2．選擇題（20分）
3. 化簡與簡答題（10分）
4. 作圖題（10分）
5. 分析題（30分）
6. 設(shè)計題（30分）
7. 綜合分析題（40分）
三、主要參考書目
《數(shù)字電路技術(shù)基礎(chǔ)》（第五版），閆石，高等教育出版社，2006年
原文標題：2021年研究生招生考試自命題考試大綱
原文鏈接：http://yjszs.cqjtu.edu.cn/info/1056/1406.htm
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